技术参数
膜厚范围：0-30000nm
折射指数：± 0.0001
厚度准确度：± 0.01nm
入射角度：20 - 90°
波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选）
Psi=±0.01°，Delta=±0.02°
主要特点
仪器介绍
世界级高精度光谱椭偏仪。入射角可变（20-90°）。根据客户需求，可提供不同型号：
如单波长（632.8nm)、多波长、
深紫外、紫外-可见-近红外光谱椭偏仪（190-2300nm）
红外光谱椭偏仪等。
可以测量折射指数、消光系数（n & K)，膜厚等，广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。
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电 话： |
86-010-13911120013 |
移动电话： |
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传 真： |
86-- |
地 址： |
北京市朝阳区通惠家园惠润园1号楼1单元909 |
邮 编： |
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| 联 系 人： |
李先生 |
公司主页： |
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联系信息
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